UHF RFID的平臺由讀寫器、天線、RFID標簽組成。
因素一：讀寫器發(fā)射功率
讀寫器發(fā)射電流越大，讀寫距離相應得也會減少。
因素二：讀寫器天線增益和頻域寬度
天線增益越大，波束寬度越小，則讀寫距離越遠，范圍越窄抗金屬RFID標簽，讀取的范圍控制越好。
因素三：讀寫器與標簽的靈敏度
標簽芯片與讀寫器的靈敏度均可影響至讀寫距離，靈敏度越高，可讀寫距離經常越遠。
因素四：多標簽數(shù)量
多標簽環(huán)境下，單位時間內RFID讀取的標簽數(shù)量也會影響至讀寫器的多標簽讀寫性能。
因素五：讀寫器對碰撞問題的處理算法
一般來說，標簽存在下面兩種碰撞問題：
1、多標簽碰撞：多個標簽與一個讀寫器通訊時形成的碰撞，出現(xiàn)此種情況時可以借助調整讀寫器自身的防碰撞算法來解決。
2、多讀寫器碰撞：多個讀寫器同時與一個標簽通訊時形成的碰撞，通過將讀寫器設置成不同的session(通話)和標簽進行通訊以及檢測時關閉其他讀寫器即可解決。
因素六：標簽粘貼物材質
金屬和液體會對電磁波產生制約，需要采取特殊設計的防金屬標簽跟抗液體標簽：
液體應用——必須采取特殊設計的液體標簽；
金屬表面——必須使用抗金屬標簽；
如遇到這兩種顏色的標簽也可以運用立標——標簽不直接粘貼至金屬或液態(tài)容器內壁，芯片和天線個別與容器不接觸，同時在液體跟塑料應用中必須留意物品的放置方法抗金屬RFID標簽，堆疊過多會導致內層讀取率低。
因素七：測試環(huán)境
RFID性能測試建議在空曠的環(huán)境中進行，讀寫器天線與標簽之間存在塑料或液體之類的障礙物、環(huán)境中存在與頻率接近的電磁干擾等就會妨礙測試性能。
首先應確定測試環(huán)境中能否有金屬障礙物干擾，如金屬網，密集的金屬網會對UHF信號形成屏蔽作用，造成較大衰減，導致難以讀取標簽信息。
其次，如果在貨物滿倉的庫房中則必須考量貨物性質（金屬、液體、服裝等）是否會妨礙電磁波，也必須防止多層堆放，同時RFID設備要與其它物件保持距離，避免串讀。
以上是制約RFID系統(tǒng)檢測性能的若干原因，如果您在測試過程中遭遇性能受制約的狀況，不妨對照檢查，希望可使您的RFID測試過程非常順暢！
